【内容概要】本書は半導体評価技術に関する専門的な知識を提供するもので、半導体の特性評価や測定技術について詳しく解説しています。- タイトル: 半導体評価技術- 著者: 河東田 隆- 初版: 1989年2月28日- 第8刷: 2003年6月24日- シリーズ名: 集積回路プロセス技術シリーズ- 発行者: 飯塚書店ご覧いただきありがとうございます。【対象読者】半導体技術に興味がある学生や研究者、業界の技術者にとって、実践的な知識を得るための貴重なリソースです。特に、集積回路プロセス技術に焦点を当てており、実務に役立つ情報が豊富に含まれています。【著者の経歴】著者の河東田隆は、東京大学工学部を卒業後、長年にわたり半導体技術の研究に従事してきました。彼の専門知識は、業界内で高く評価されています。カテゴリー:本・雑誌・漫画>>>本>>>語学・辞書・学習参考書商品の状態: 傷や汚れあり